一、引言\n中規模集成電路（MSI）在現代電子系統中扮演著關鍵角色，其功能測試是確保設備穩定性的重要環節。本文旨在設計一種低成本、高效率的測試儀方案，能夠檢測常見MSI芯片（如邏輯門、計數器、譯碼器等）的邏輯功能，并具備簡單的故障定位能力。該設計基于單片機控制技術，結合信號發生與采集模塊，實現靈活測試。\n\n## 二、系統總體架構\n測試儀由以下核心模塊組成：\n1. 主控制單元：采用STM32微控制器，負責測試模式選擇、信號協調與數據分析。\n2. 電源模塊：提供+5V和+3.3V電壓，通過線性穩壓器（如LM7805和AMS1117）提高穩定性。\n3. 多路輸入信號并行生成：用74HC374鎖存器+CD4066模擬開關輸出自選編程。狀態根據步址、扇區算法生成測試矢量。常見的矩陣\